x熒光光譜儀在實際工作過程中，水分對其測量結(jié)果有很大的影響，其主要有兩方面，一方面是水分對入射射線和次級射線的吸收，另一方面是水分對初級射線的散射。水分吸收入射射線會使得X熒光光譜儀測量的目標元素的特征X射線計數(shù)率減小，而水分散射的射線會使得測得譜線的本底和散射計數(shù)增大，加大了對目標元素的特征峰影響。因此，在X熒光光譜儀分析技術(shù)中，水分對測量結(jié)果的影響是不能忽略的。

    由于不同元素的特征x射線能量大小不同，水分影響的結(jié)果也是不同的。對于輕元素或者是原子序數(shù)小的中等元素，它們的特征X射線能量較低，水分對其吸收就會較為明顯。對鐵礦樣品，其原子序數(shù)較低且特征X射線能量較小，水分效應(yīng)對其計數(shù)率的影響就較為明顯。因此，在制樣的時候，對樣品進行充分的烘干就顯得非常重要。

    2、制樣壓力分析

    在對粉末樣品進行X射線熒光光譜儀分析時，對于未壓制過的樣品直接進行測量，由于樣品顆粒間隙中存在空氣，這會對入射射線造成一定的吸收和散射，勢必會影響到測量的結(jié)果。采用壓片法制樣時，這就會存在壓制樣品的壓力大小的選擇。為了減小測量結(jié)果的誤差，盡量消除密度效應(yīng)對鐵礦石選礦工藝流程中的鐵礦樣品的影響，對樣品采用不同壓力制樣，測量結(jié)果會出現(xiàn)不同的變化情況。通對鐵礦粉末樣品上的壓力與儀器測量結(jié)果之間關(guān)系的分析研究。當樣品的厚度足夠的情況下，制樣壓力在0.5Mpa以下時，x射線熒光光譜儀對鐵礦樣品中的鐵元素的分析結(jié)果隨著制樣壓力的增加而增大。同樣前提條件下，制樣壓力在0.5Mpa以上時，儀器的分析結(jié)果隨著制樣壓力的增加變化趨于平穩(wěn)，測量結(jié)果基本一致。這樣可以認定儀器在0．5Mpa以上時，鐵礦樣品在厚度飽和的情況下，制樣壓力對儀器的測量結(jié)果的影響可以消除。一般情況采用了1Mpa的制樣壓力進行制樣，可以很好的消除制樣壓力對樣品制備的影響，提高儀器的測量精度。

    3、飽和厚度分析

    X射線在樣品中的穿越厚度與入射射線的能量有很大的關(guān)系，入射射線能量越大，穿越的厚度就會越深。在用X射線熒光儀分析待測樣品時，樣品的厚度不夠，那么射線極有可能就會穿越樣品進入空氣中，這就會降低待測樣品的計數(shù)率，對結(jié)果造成一定的影響。因此，對樣品飽和厚度對儀器測量結(jié)果的影響進行研究是十分必要的。

    鐵礦樣品測量計數(shù)率隨著樣品的重量的增加逐漸增大，在樣品達到5g以上時，儀器的測量結(jié)果變化趨勢變緩，且基本趨于穩(wěn)定。通過實驗，可以認定當鐵礦樣品重量達到5g時，對于本次實驗制樣模具大小和采用1Mpa壓力制樣的情況下，樣品達到飽和厚度。對于同樣條件下，5g樣品的飽和厚度通過游標卡尺測量的厚度顯示為3.125mm。因此，本文實驗在制樣過程中，統(tǒng)一模具下，樣品的重量盡量在5g以上，才能消除樣品厚度不足給儀器測量帶來的誤差。

    4、不均勻效應(yīng)分析

    X射線熒光分析技術(shù)對粉末樣品進行分析，樣品的不均勻性、顆粒度大小和偏析現(xiàn)象都會對分析結(jié)果造成很大的影響。在制備樣品時，必須要加以注意。常常把由待測樣品顆粒度的大小不一對X射線熒光分析造成的影響稱為顆粒度效應(yīng)，而由于礦物中存在的礦化不均勻引起結(jié)果的偏差稱之為礦化不均勻效應(yīng)。